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廣電計(jì)量依據(jù)《信息安全技術(shù)—遠(yuǎn)程人臉識(shí)別系統(tǒng)技術(shù)要求》（GB/T38671-2020）標(biāo)準(zhǔn)，可對(duì)人臉識(shí)別技術(shù)在服務(wù)器端遠(yuǎn)程進(jìn)行身份鑒別的信息系統(tǒng)的功能、性能和安全要求、安全保障要求進(jìn)行檢測(cè)。采用密碼、指紋、人臉等不同技術(shù)組合構(gòu)建雙因子認(rèn)證方...

隨著人們生活水平的提高，對(duì)食品質(zhì)量要求不斷提高。但是，在實(shí)際生產(chǎn)和加工過程中，可能會(huì)存在一些有害物質(zhì)的殘留，如農(nóng)藥、重金屬、細(xì)菌等，這些物質(zhì)會(huì)對(duì)人體健康造成威脅。因此，保障食品安全已經(jīng)成為現(xiàn)代社會(huì)的一部分，而有害物質(zhì)檢測(cè)也成為了食品監(jiān)管中非...

熱真空試驗(yàn)(thermalvacuumtest)是指在真空和一定的溫度條件下驗(yàn)證航天器及其組件各種性能與功能的試驗(yàn)，由冷浸、熱浸與變溫過程組成。冷浸是使航天器及其組件處于規(guī)定的試驗(yàn)低溫度，并停留規(guī)定的時(shí)間;熱浸是使其處于規(guī)定的試驗(yàn)溫度，并停...

隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，半導(dǎo)體元器件已經(jīng)成為現(xiàn)代電子設(shè)備中的組成部分。但是，由于制造過程中的各種因素以及使用中的環(huán)境影響，半導(dǎo)體元器件存在各種潛在故障和缺陷，這些問題可能會(huì)給電子設(shè)備帶來嚴(yán)重的風(fēng)險(xiǎn)。因此，半導(dǎo)體元器件檢測(cè)作為保障電子設(shè)備安全...

與自然界產(chǎn)生的閃電不同，HIRF（高強(qiáng)度輻射場(chǎng)）是由人類活動(dòng)造成的電磁環(huán)境問題。對(duì)飛機(jī)而言，HIRF環(huán)境是由雷達(dá)、無線電臺(tái)、廣播電視發(fā)射臺(tái)，以及其他地面、水面、空中的射頻（RF）發(fā)射機(jī)等傳輸電磁射頻能量而產(chǎn)生的，特點(diǎn)是頻率覆蓋范圍廣、電場(chǎng)強(qiáng)...

化學(xué)材料是現(xiàn)代科技中的一部分，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，包括電子、醫(yī)療、汽車、建筑等。這些材料需要經(jīng)過廣泛的測(cè)試才能確保它們的安全性、穩(wěn)定性和性能。然而，傳統(tǒng)的化學(xué)材料測(cè)試方法可能存在一些局限性，因此需要探索新的測(cè)試方法。一種新的測(cè)試方法是使用機(jī)...